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Enhancement of Critical Current Density of Yttrium Barium Copper Oxide Thin Films by Introducing Nano dimensional Cerium Oxide Defects

机译：通过引入纳米尺寸氧化铈缺陷来提高钇钡氧化铜氧化薄膜的临界电流密度

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Tochukwu Emeakaroha; Floyd James; Abebe Kebede;
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年度 2018
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1. Enhancement of Critical Current Density of Yttrium Barium Copper Oxide Thin Films by Introducing Nano dimensional Cerium Oxide Defects [J] . Tochukwu Emeakaroha, Floyd James, Abebe Kebede Applied Physics Research . 2018,第6期

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