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机译:电阻开关装置中银和铜纳丝的表面扩散限制
Wei Wang; Ming Wang; Elia Ambrosi; Alessandro Bricalli; Mario Laudato; Zhong Sun; Xiaodong Chen; Daniele Ielmini;
机译:Cu / Tao_x / PT电阻器件中Cu和氧空位纳丝纳丝的双极和单极切换的共存
机译:基于固体电解质的电阻式开关存储器件中金属纳米丝的生长
机译:银/聚苯乙烯/银纳米间隙器件中的电阻切换
机译:铜和氧空位纳米丝的Cu / TaO_x / Pt电阻器件中双极和单极开关的共存
机译:基于五氧化二铜-铂金器件结构的纳米交叉电阻开关存储器的制作
机译:电阻开关器件中银和铜纳米丝的表面扩散极限寿命
机译:工程银纳米线网络:从透明电极到电阻开关装置
机译:电阻切换非易失性存储单元,例如非易失性导电桥接随机存取存储单元的制造方法,涉及以溅射模式操作惰性气体等离子体以产生银/铜扩散
机译:用于切换大电流和高电压的半导体开关装置具有温度测量传感器,该温度测量传感器安装在隔离膜的背向铜层的表面上,该表面背离层压在铜层表面上的膜区域
机译:感应加热装置具有平面状的感应线圈和配置在感应线圈中的温度检测装置,其中,开关装置的开关触点的接触材料为铜或银。
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