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【2h】

Multi-Channel Detection of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in the Scanning Low Energy Electron Microscope

机译：扫描低能电子显微镜中反向散射电子的角分布的多通道检测

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I Mullerova; I Konvalina;
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年度 2006
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1. Energy Filtering and Coaxial Detection of the Backscattered Electrons in Scanning Electron Microscope [J] . JIANG Chang-Zhong, P. Morin, N. Rosenberg 中国物理快报：英文版 . 2000,第009期

机译：扫描电子显微镜中反向散射电子的能量过滤和同轴检测
2. Influence of the Angular Distribution of Backscattered Electrons on Signals at Different Take-Off Angles in Low-Voltage Scanning Electron Microscopy (LVSEM) [J] . M. Spranck, M. Kaessens, L. Reimer Scanning . 1995,第2期

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3. Angular and Energy Characteristics of Backscattered Electrons and Allowing for Them in the Three-Dimensional Visualization of Microstructures in Scanning Electron Microscopy [J] . V. V. Zabrodsky, S. V. Zaitsev, V. Yu. Karaulov, Bulletin of the Russian Academy of Sciences. Physics . 2019,第11期

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4. Discussion of Ways to Energy-Filter the Electron Backscattering Pattern (EBSP)in the Scanning Electron Microscope (SEM) [C] . Oliver C. Wells Microscopy Society of America annual meeting;Microscopy Society of Canada annual meeting;Societe de Microscopie du Canada annual meeting;Microbeam Analysis Society annual meeting;International Metallographic Society annual meeting . 2002

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