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【2h】

A Post-Silicon Trace Analysis Approach for System-on-Chip Protocol Debug

机译：用于系统片上协议调试的硅跟踪分析方法

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作者
Yuting Cao; Hao Zheng; Hernan Palombo; Sandip Ray; Jin Yang;
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作者单位

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年度 2017
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1. A Hybrid Approach for Fast and Accurate Trace Signal Selection for Post-Silicon Debug [J] . Li M., Davoodi A. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on . 2014,第7期

机译：用于硅后调试的快速准确的跟踪信号选择混合方法
2. Formal-Analysis-Based Trace Computation for Post-Silicon Debug [J] . Gort M., De Paula F. M., Kuan J. J. W., Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on . 2012,第11期

机译：硅分析后基于形式分析的跟踪计算
3. Cluster Restoration-Based Trace Signal Selection for Post-Silicon Debug [J] . Cheng Yun, Li Huawei, Wang Ying, IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 2019,第4期

机译：基于集群恢复的跟踪信号选择，用于后硅调试
4. A Post-Silicon Trace Analysis Approach for System-on-Chip Protocol Debug [C] . Yuting Cao, Hao Zheng, Hernan Palombo, International conference on computer design . 2017

机译：片上系统协议调试的后硅跟踪分析方法
5. A Communication-centric Framework for Post-silicon System-on-chip Integration Debug [D] . Cao, Yuting . 2019

机译：用于硅后系统片上集成调试的通信为中心的框架
6. An imaging analysis protocol to trace quantify and model multi-signal neuron morphology [O] . Sumit Nanda, Shatabdi Bhattacharjee, Daniel N. Cox, 2021

机译：追踪量化和模型多信号神经元形态的成像分析方案
7. A Hybrid Approach for Fast and Accurate Trace Signal Selection for Post-Silicon Debug [O] . Min Li, Azadeh Davoodi 2014

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