首页> 外文OA文献 >Atomically Resolved Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope

【2h】

Atomically Resolved Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope

机译：使用双像差校正透射电子显微镜原子分辨扫描共聚焦电子显微镜

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Peng Wang; Angus I. Kirkland; Peter D. Nellist; Adrian J. D’Alfonso; Andrew J. Morgan; Leslie J. Allen; Ayako Hashimoto; Masaki Takeguchi; Kazutaka Mitsuishi; Masayuki Shimojo;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2014
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Bright-field scanning confocal electron microscopy using a double aberration-corrected transmission electron microscope [J] . Peng Wang, Gavin Behan, Angus I. Kirkland Ultramicroscopy . 2011,第7期

机译：使用双像差校正透射电子显微镜的明场扫描共聚焦电子显微镜
2. Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope [J] . Nellist PD, Cosgriff EC, Behan G, Microscopy and microanalysis: The official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada . 2008,第1期

机译：双像差校正透射电子显微镜中扫描共聚焦电子显微镜的成像模式
3. Nanoscale Energy-Filtered Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double-Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope [J] . Peng Wang Gavin Behan Masaki Takeguchi Ayako Hashimoto Kazutaka Mitsuishi Masayuki Shimojo Angus I. Kirkland and Peter D. Nellist Physical Review Letters . 2010,第20期

机译：使用双像差校正透射电子显微镜的纳米级能量过滤扫描共聚焦电子显微镜
4. Current Developments of Scanning Confocal Electron Microscopy in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope [C] . P.Wang, A.I. Kirkland, P.D. Nellist, Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting;International Metallographic Society Annual meeting . 2012

机译：双像差校正透射电子显微镜中扫描共聚焦电子显微镜的最新进展
5. Characterization of Electrochemical and Electronic Materials by in situ and Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy [D] . Holtz, Megan Elizabeth. 2017

机译：用原位和像差校正扫描透射电子显微镜表征电化学和电子材料
6. Single-Digit Nanometer Electron-Beam Lithography with an Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscope [O] . Fernando E. Camino, Vitor R. Manfrinato, Aaron Stein, 2018

机译：单数字纳米电子束光刻和像差校正扫描透射电子显微镜
7. Energy Filtered Scanning Confocal Electron Microscopy in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope [O] . Wang, P, Behan, G, Kirkland, AI, 2009

机译：双像差校正透射电子显微镜中的能量过滤扫描共聚焦电子显微镜
8. Accurate Virus Quantitation Using a Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector in a Scanning Electron Microscope. [R] . Blancett, C., Fetterer, D. P., Koistinen, K. A., 2017

机译：在扫描电子显微镜中使用扫描透射电子显微镜（sTEm）检测器进行准确的病毒定量。

Atomically Resolved Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅