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【2h】

Analysis of multiple faults in synchronous sequential circuits by Boolean difference techniques

机译：布尔差分技术分析同步顺序电路中的多个故障

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L.H. Goldstein;
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年度 1978
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机译：布尔差分技术，用于检测可逆电路中的所有缺失门和滞留故障*
2. Analysis and Testing of Bridging Faults in CMOS Synchronous Sequential Circuits [J] . Yukiya MIURA IEICE Transactions on Information and Systems . 2004,第3期

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3. Double–Single Stuck-at Faults: A Delay Fault Model for Synchronous Sequential Circuits [J] . Pomeranz I., Reddy S. M. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on . 2009,第3期

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4. On multiple fault analysis in synchronous sequential circuits by Boolean difference techniques [C] . Das, S.R., Nayak, . 1990

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5. Formal techniques for verification of synchronous sequential circuits. [D] . Hoskote, Yatin Vasant. 1995

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6. A Multivariate Analysis of Age-Related Differences in Default Mode and Task Positive Networks Across Multiple Cognitive Domains [O] . Cheryl L. Grady, Andrea B. Protzner, Natasa Kovacevic, -1

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7. A method for reducing the target fault list of crosstalk faults in synchronous sequential circuits [O] . Takahashi Hiroshi, Keller Keith J., Le Kim T., 2005

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8. Analysis of Multiple Faults in Synchronous Sequential Circuits by Boolean Difference Techniques [R] . Goldstein, L. H. 1978

机译：用布尔差分技术分析同步时序电路中的多个故障

Analysis of multiple faults in synchronous sequential circuits by Boolean difference techniques

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