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Characterization and Modeling of 0.18μm Bulk CMOS Technology at Sub-Kelvin Temperature

机译：亚开尔文温度下0.18μm批量CMOS技术的特征与建模

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Teng-Teng Lu; Zhen Li; Chao Luo; Jun Xu; Weicheng Kong; Guoping Guo;
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年度 2020
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