首页> 外文OA文献 >Figure 3: Comparison of scanning electron microscope (SEM) images of SW-F (A–D) and SW-S (E–H) pollen grains.

【2h】

Figure 3: Comparison of scanning electron microscope (SEM) images of SW-F (A–D) and SW-S (E–H) pollen grains.

机译：图3：SW-F（A-D）和SW-S（E-H）花粉晶粒的扫描电子显微镜（SEM）图像的比较。

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者

展开▼
作者单位

展开▼
年度 -1
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Surface area and volume measurements of volcanic ash particles using micro-computed tomography (micro-CT): A comparison with scanning electron microscope (SEM) stereoscopic imaging and geometric considerations [J] . Orkun Ersoy, Erdal Sen, Erkan Aydar, Journal of Volcanology and Geothermal Research . 2010,第3a4期

机译：使用微计算机断层扫描（micro-CT）测量火山灰颗粒的表面积和体积：与扫描电子显微镜（SEM）立体成像的比较和几何考虑
2. A Consideration on the Pollen Morphology of Chestnut (Castanea spp.) by Using Scanning Electron Microscope(SEM) [J] . Journal of Korean Forestry Society . 2004,第1期

机译：扫描电镜对板栗（Castanea spp。）花粉形态的思考
3. A Consideration on the Pollen Morphology of Chestnut (Castanea spp.) by Using Scanning Electron Microscope(SEM) [J] . Journal of Korean Forestry Society . 2004,第1期

机译：扫描电镜对板栗（Castanea spp。）花粉形态的思考
4. A Working Method for adapting the (SEM) Scanning Electron Microscope to Produce (STEM) Scanning Transmission Electron Microscope Images [C] . Edward Coyne 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Nov 3-7, 2002, Phoenix, Arizona . 2002

机译：一种适用于（SEM）扫描电子显微镜以产生（STEM）扫描透射电子显微镜图像的工作方法
5. Scanning Electron Microscope (SEM) images as a means to determine dispersibility [D] . Velasco, Erica Susan. 2013

机译：扫描电子显微镜（SEM）图像作为确定分散性的一种手段
6. Comparison of Electron Imaging Modes for Dimensional Measurements in the Scanning Electron Microscope [O] . Michael T. Postek, András E. Vladár, John S. Villarrubia, -1

机译：在扫描电子显微镜中进行尺寸测量的电子成像模式的比较
7. Figure 3: Scanning electron microscope (SEM) images of Chlorella sp. biomass at 10,000×. [O] . -1

机译：图3：扫描电子显微镜（SEM）小团的图像。生物量为10,000×。
8. Direct defect imaging in the high resolution SEM (scanning electron microscope). [R] . Joy, D. C. 1990

机译：在高分辨率sEm（扫描电子显微镜）中直接缺陷成像。

Figure 3: Comparison of scanning electron microscope (SEM) images of SW-F (A–D) and SW-S (E–H) pollen grains.

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅