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【2h】

Direct Patterning of p-Type-Doped Few-layer WSe2 Nanoelectronic Devices by Oxidation Scanning Probe Lithography

机译：通过氧化扫描探头光刻直接图案化P型掺杂的几层WSE2纳米电子器件

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A. I. Dago; Y. K. Ryu; F. J. Palomares; R. Garcia;
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年度 2018
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