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【2h】

Analysis of Subthreshold Leakage Current in IP3 SRAM Bit-Cell under Temperature Variations in Deep-Submicrometer CMOS Technology

机译：深度型CMOS技术温度变化下IP3 SRAM位细胞亚阈值漏电流分析

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作者
Neeraj Kr.Shukla; Shilpi Birla; Saksham Dembla;
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年度 2012
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