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【2h】

Исследование электростатической системы поверхности кристаллов AuNi/GaN диодов Шоттки методом зонда Кельвина атомно-силовой микроскопии

机译：用塞尔文探针方法对原子力显微镜探针方法的肖氏/ GaN晶体表面静电系统研究

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Н.А. Торхов; В.А. Новиков;
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年度 2020
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