机译:常规6T SRAM单元和基于FinFET的45nm技术的6T SRAM单元参数的比较
机译:基于碳纳米管的CMOS SRAM:1 kbit 6T SRAM阵列和10T SRAM单元
机译:6T,7T常规CMOS和基于CNTFET基于SRAM细胞设计的对比分析
机译:使用180nm技术对常规6T SRAM细胞7T,8T,9T和10T SRAM的比较研究
机译:基于7NM FinFET的6T SRAM细胞瞬态和DC分析性能分析
机译:功耗优化的变化感知双阈值SRAM单元设计技术
机译:高速单端6T和8T SRAM细胞的设计
机译:sEU(单事件翻转)容忍存储器单元源自sRam中的sEU机制的基础研究(静态随机存取存储器)