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Impact of Mixed Negative Bias Temperature Instability and Hot Carrier Stress on MOSFET Characteristics—Part I: Experimental

机译：混合负偏置温度不稳定性和热载波应力对MOSFET特性的影响 - 第一部分：实验

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Bianka Ullmann; Markus Jech; Katja Puschkarsky; Gunnar Andreas Rott; Michael Waltl; Yury Illarionov; Hans Reisinger; Tibor Grasser;
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年度 2019
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