机译:电荷陷阱层在β-GA_2O_3栅极堆栈中启用了正调谐V_(FB),用于增强模式晶体管
机译:高(kappa)门堆叠中正偏置温度不稳定性(PBTI)的快速分量的电荷捕获模型
机译:电荷陷阱层电导率控制对使用IGZO通道和ZnO电荷陷阱层的顶栅存储薄膜晶体管的器件性能的影响
机译:具有SI接口钝化层和HFO {SUB} 2栅极栅极栅极自对准增强型GA-MOSFET的电荷捕获和磨损特性
机译:电荷陷阱对高k栅极堆叠中的迁移率和阈值电压不稳定性产生影响。
机译:晶体管存储器:45-二氮杂芴基供体-受体小分子作为可调非易失性有机晶体管存储器的电荷俘获元件(Adv。Sci。12/2018)
机译:在In0.7ga0.3as的不稳定性,用单层AL2O3和双层AL2O3 / HFO2栅极堆叠在正偏置温度(PBT)应力下引起的单层AL2O3和双层AL2O3 / HFO2堆叠