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【2h】

Microstructural and Electrical Investigation of Low Resistance and Thermally Stable Pd/Ni Contact on p-Type GaN

机译：P型GaN对低电阻和热稳定PD / Ni接触的微观结构和电气研究

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作者
Ho Won Jang; Hyung Koun Cho; Jeong Yong Lee; Jong-Lam Lee;
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作者单位

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年度 2003
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1. Low-resistance and thermally stable Pd/Re ohmic contacts to p-type GaN [J] . V Rajagopal Reddy, Sang-Ho Kim, June O Song, Semiconductor science and technology . 2003,第6期

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2. Low-Resistance and Thermally Stable Pd/Ru Ohmic Contacts to p-Type GaN [J] . Ja-Soon Jang, Chang-Won Lee, Seong-Ju Park, Journal of Electronic Materials . 2002,第9期

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3. Microstructural and Electrical Investigation of Ni/Au Ohmic Contact on p-type GaN [J] . John Kyu Kim, Jung Ho Je, Jae Won Lee, Journal of Electronic Materials . 2001,第2期

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4. Improved low resistance contacts of Ni/Au and Pd/Au to p-type GaN using a cryogenic treatment [C] . Mi-Ran Park, Wayne A. Anderson, Seong-Ju Park Symposium on GaN and related alloys . 2000

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