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Electron Dose Management for High Angle Annular Dark Field Scanning Transmission Electron Microscope Tomography of Beam Sensitive Materials

机译：电子剂量管理高角度环形暗场扫描透射电子显微镜断层扫描的光束敏感材料

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Frédéric Voisard; Hendrix Demers; Michel Trudeau; George P. Demopoulos; Raynald Gauvin; Karim Zaghib;
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年度 2016
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