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【2h】

High-Resolution All-Digital Duty-Cycle Corrector in 65-nm CMOS Technology

机译：采用65纳米CmOs技术的高分辨率全数字占空比校正器

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Ching-Che Chung; Duo Sheng; Sung-En Shen;
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年度 2014
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1. High-Resolution All-Digital Duty-Cycle Corrector in 65-nm CMOS Technology [J] . Chung C., Sheng D., Shen S. IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems . 2014,第5期

机译：采用65nm CMOS技术的高分辨率全数字占空比校正器
2. A wide-range all-digital duty-cycle corrector with output clock phase alignment in 65nm CMOS technology [J] . Ching-Che Chung, Duo Sheng, Sung-En Shen IEICE Electronics Express . 2011,第15期

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