机译:X射线荧光吸收和厚度测定氧化物氧化物纳米型膜的定量分析
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机译:X射线荧光分析法测定As-Se和Ge-Se玻璃和薄膜的定量组成
机译:通过能量分散X射线荧光和多变量分析测定聚合物薄膜厚度
机译:通过热氧化Zn-金属膜生长膜厚度和ZnO晶粒尺寸的蓝色发射的出现
机译:X射线光电子衍射和低能电子衍射纳米级过渡金属氧化物膜的表面结构测定
机译:高分辨率X射线发射和吸收光谱法对5d金属和金属氧化物的围绕费米电子结构的比较研究
机译:用软X射线吸收光谱法研究过渡金属氧化物和氧化物薄膜的自旋和轨道自由度
机译:金属氧化膜的X射线吸收光谱。