退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:激光散射法测量Si晶片表面上的纳米细颗粒。
Satoshi SASAKI; Hiroshi AN; Yuzo MORI; Tosihiko KATAOKA; Katsuyoshi ENDO; Kazuto YAMAUCHI; Haruyuki INOUE;
机译:激光散射法测量硅片表面纳米微粒
机译:使用激光散射法测量硅晶片表面上的超细颗粒
机译:在硅晶片表面上使用新型激光散射检测技术进行颗粒尺寸计算
机译:单光束激光散射和激光多普勒速度测定粒度尺寸和计数
机译:脉冲激光刻蚀的部分透明硅晶片中的光透射和内部散射
机译:使用激光光散射法测量Si晶片表面上的超细缺陷。
机译:表面颗粒光散射的可见因子和多分散性
机译:用激光多普勒风速仪测量光散射移动颗粒的物理量的方法和装置
机译:通过激光多普勒风速计测量光散射运动粒子的物理值的方法和装置
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。