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【2h】

Imaging-plate X-ray topography analysis system for characterizing growth striations in silicon crystals

机译：用于表征硅晶体生长条件的成像板X射线图分析系统

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作者
S. Kawado; S. Kojima; Y. Kudo; K. Y. Liu; T. Ishiwaka;
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年度 1993
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