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机译:微互连技术。 BGA封装焊点的热疲劳强度评价。
Yoshinori EBIHARA;
机译:便携式设备的封装和印刷线路板之间的BGA型焊点疲劳强度
机译:便携式设备的封装与印刷线路板之间的BGA型焊点疲劳强度
机译:测定BGA封装焊球热循环疲劳寿命的简便实验技术。
机译:BGA封装中焊料凸点的热疲劳分析
机译:使用BGA封装的焊点可靠性评估:Megtron 6与FR4印刷电路板的跌落测试
机译:考虑载荷顺序影响的BGA热疲劳寿命预测模型
机译:BGA包装焊点的疲劳强度评价。
机译:60sn-40pb焊点蠕变和热疲劳变形的微观结构研究。
机译:用于BGA安装的焊料形状评估方法,用于BGA安装的焊料形状评估装置以及存储用于BGA安装的焊料形状评估程序的计算机可读记录介质
机译:焊锡连接部分的结构,BGA型半导体封装的包装结构,焊锡膏,BGA型半导体封装的电极形成过程以及BGA型半导体封装的封装过程
机译:在BGA安装时评估焊锡形状的方法和装置以及在BGA安装时评估焊锡形状的计算机可读记录介质存储程序
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