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Revealing hidden medium-range order in amorphous materials using topological data analysis

机译：使用拓扑数据分析揭示非晶材料中隐藏的中距顺序

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作者
Søren S. Sørensen; Christophe A. N. Biscio; Mathieu Bauchy; Lisbeth Fajstrup; Morten M. Smedskjaer;
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年度 2020
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1. Revealing hidden medium-range order in amorphous materials using topological data analysis [J] . S?ren S. S?rensen, Christophe A. N. Biscio, Mathieu Bauchy, Science Advances . 2020,第37期

机译：使用拓扑数据分析揭示非晶材料中隐藏的中距顺序
2. Erratum: Ring statistics analysis of topological networks: New approach and application to amorphous GeS2 and SiO2 systems (Computational Materials Science Sci. (2010) 49 (70-83)) [J] . Roux S.L., Jund P. Computational Materials Science . 2011,第3期

机译：勘误表：拓扑网络的环统计分析：非晶态GeS2和SiO2系统的新方法和应用（计算材料科学（2010）49（70-83））
3. Topological Data Analysis in Materials Science: The Case of High-Temperature Cuprate Superconductors [J] . I. Yu. Torshin, K. V. Rudakov Pattern recognition and image analysis: advances in mathematical theory and applications in the USSR . 2020,第2期

机译：材料科学中的拓扑数据分析：高温铜制超导体的情况
4. Topological Data Analysis for Extracting Hidden Features of Client Data [C] . Klaus B. Schebesch, Ralf W. Stecking International Conference of the German, Austrian and Swiss Operations Research Societies . 2017

机译：提取客户端数据隐藏特征的拓扑数据分析
5. The hidden evidence from Hidden Cave, Nevada: An application of immunological techniques to the analysis of archaeological materials [D] . Newman, Margaret Evelyn 1990

机译：内华达州隐藏洞穴的隐藏证据：免疫技术在考古材料分析中的应用
6. High-Throughput Screening Approach for Nanoporous Materials GenomeUsing Topological Data Analysis: Application to Zeolites [O] . Yongjin Lee, *, Senja D. Barthel, -1

机译：纳米多孔材料基因组的高通量筛选方法使用拓扑数据分析：在沸石中的应用
7. High-Throughput Screening Approach for Nanoporous Materials Genome Using Topological Data Analysis: Application to Zeolites [O] . Yongjin Lee, Senja D. Barthel, Paweł Dłotko, 2018

机译：使用拓扑数据分析的纳米多孔材料基因组的高通量筛选方法：沸石应用
8. Medium-Range Order in Amorphous Silicon Measured by Fluctuation Electron Microscopy. Final Report 23 June 1999-23 August 2002 [R] . Voyles, P. M., Abelson, J. R. 2003

机译：通过波动电子显微镜测量非晶硅的中程有序。最终报告1999年6月23日至2002年8月23日

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