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机译:通过会聚束电子衍射进行应变测量:薄片制备中应力松弛的重要性
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机译:来自GEXSI1-X / SI应变层超晶格的横截面样本的大角度会聚光束电子衍射图中的衍射信息的高空间分辨率
机译:X射线衍射定量相位分析和精确晶格参数测量