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【2h】

Using a straightness reference in obtaining more accurate surface profiles from a long trace profiler

机译：在长跟踪分析器中使用直接参考以获得更精确的表面轮廓

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S. C. Irick; W. R. McKinney; D. L. J. Lunt; P. Z. Takacs;
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年度 1992
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