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【2h】

Noninvasive Semiconductor Field Imaging: Imaging the Electric-Field Distribution in Organic Devices by Confocal Electroreflectance Microscopy (Adv. Funct. Mater. 8/2009)

机译：非侵入式半导体场成像：通过共聚焦电气反射显微镜对有机器件中的电场分布进行成像（ADV。Funct。Mater。8/2009）

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Michele Celebrano; Calogero Sciascia; Giulio Cerullo; Margherita Zavelani-Rossi; Guglielmo Lanzani; Juan Cabanillas-Gonzalez;
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年度 2009
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1. Imaging the Electric-Field Distribution in Organic Devices by Confocal Electroreflectance Microscopy [J] . Michele Celebrano, Calogero Sciascia, Ciulio Cerullo, Advanced Functional Materials . 2009,第8期

机译：通过共焦电反射显微镜对有机器件中的电场分布进行成像
2. Subsurface microscopy of biased metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor structures: photothermal and electroreflectance images [J] . J.A. Batista, A.M. Mansanares, E.C. da Silva Sensors and Actuators, A. Physical . 1998,第1a3期

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3. Subsurface microscopy of biased metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor structures: photothermal and electroreflectance images [J] . Batista JA., da Silva EC., Pimentel MBC., Sensors and Actuators, A. Physical . 1998,第1a2期

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4. Feature based recognition of photonic devices in images obtained by confocal scanning laser microscopy [C] . Stanciu, S.G., Hristu, R., Boriga, R., International Conference on Transparent Optical Networks;ICTON '09 . 2009

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7. Organic Semiconductors: Layer-by-Layer Conjugated Extension of a Semiconducting Polymer for High-Performance Organic Field-Effect Transistor (Adv. Funct. Mater. 25/2015) [O] . Mi Jang, Se Hyun Kim, Han-Koo Lee, 2015

机译：有机半导体：用于高性能有机场效应晶体管的半导体聚合物的逐层共轭延伸（ADV。Funct。Matter。25/2015）

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