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机译:遗传算法多孔硅薄膜的孔隙率和粗糙度测定
C.F. Ramirez-Gutierrez; J.D. Castaño-Yepes; M.E. Rodriguez-Garcia;
机译:遗传算法确定的多孔硅膜和多层膜的光学常数
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