Insights into the off-state breakdown mechanisms in power GaN HEMTs

机译：洞察电力GaN Hemts中的禁区击穿机制

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N. Zagni; F.M. Puglisi; P. Pavan; A. Chini; G. Verzellesi;
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年度 2019
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1. Insights into the off-state breakdown mechanisms in power GaN HEMTs [J] . Zagni N., Puglisi F. M., Pavan P., Microelectronics & Reliability . 2019,第Sepa期

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