首页> 外文OA文献 >Thin film analysis by X-ray scattering.By Mario Birkholz, with contributions by P. F. Fewster and C. Genzel. Pp. xxii+356. Weinheim: Wiley-VCH Verlag GmbH Co., 2005. Price (hardcover) EUR 119, SFR 188. ISBN-10: 3-527-31052-5; ISBN-13: 978-3-527-31052-4.

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Thin film analysis by X-ray scattering.By Mario Birkholz, with contributions by P. F. Fewster and C. Genzel. Pp. xxii+356. Weinheim: Wiley-VCH Verlag GmbH Co., 2005. Price (hardcover) EUR 119, SFR 188. ISBN-10: 3-527-31052-5; ISBN-13: 978-3-527-31052-4.

机译：X射线散射的薄膜分析。Mario Birkholz，P. F.少数人和C. Genzel的贡献。 PP。 XXII + 356。 Weinheim：Wiley-VCH Verlag GmbH Co.，2005.价格（精装）EUR 119，SFR 188. ISBN-10：3-527-31052-5; ISBN-13：978-3-527-31052-4。

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Daniel Chateigner;
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年度 2006
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Thin film analysis by X-ray scattering.By Mario Birkholz, with contributions by P. F. Fewster and C. Genzel. Pp. xxii+356. Weinheim: Wiley-VCH Verlag GmbH Co., 2005. Price (hardcover) EUR 119, SFR 188. ISBN-10: 3-527-31052-5; ISBN-13: 978-3-527-31052-4.

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