Tight-binding molecular-dynamics study of defects in silicon

机译：硅中缺陷的紧密绑定分子动力学研究

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作者
C. Z. Wang; C. T. Chan; K. M. Ho;
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年度 1991
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1. Point defects in pure amorphous silicon and their role in structural relaxation: A tight-binding molecular-dynamics study [J] . Xavier Urli, Cristiano L. Dias, Laurent J. Lewis, Physical review . 2008,第15期

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2. Nickel-related defect in diamond: A tight-binding molecular-dynamics study [J] . Tsuruta K, Emoto S, Totsuji C, Computational Materials Science . 2007,第4期

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