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Optical and electrical characterization at the nanoscale with a transparent probe of a scanning tunnelling microscope

机译：用扫描隧道显微镜的透明探针在纳米级上的光学和电学表征

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Ilya Sychugov; Hiroo Omi; Tooru Murashita; Yoshihiro Kobayashi;
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年度 2009
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