机译:通过与温度和注入相关的寿命光谱法分析硅中与钴相关的缺陷水平
机译:通过依赖于温度和注入的光致发光成像鉴定寿命受限缺陷
机译:使用温度 - 注射依赖性寿命光谱研究溅射非晶硅和热蒸发钼氧化物膜的硅表面钝化研究
机译:评估导致LeTID的缺陷:依赖于温度和注入的寿命光谱
机译:由于1类铁路中存在几何缺陷而导致的铁路缺陷的发展。
机译:掺有稀土元素Er3 +的碲化物玻璃70TeO2-5XO-10P2O5-10ZnO-5PbF2(X = MgBi2Ti)的正电子ni没寿命光谱法测量缺陷结构
机译:通过温度和注入依赖的光致发光成像识别寿命限制缺陷
机译:正电子束寿命谱的原子尺度缺陷分布的体积和微观体积