Detecting defects of a circuit board using a thermal visualization

机译：使用热敏性检测电路板的缺陷

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Noriyo Sakurada; Kotaro Takagi; Yoshio Ishii; Kazuhiro Watanabe; Yuzuru Kubota;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2001
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Approach to detecting latent defects of the printed circuit boards thin-filmed coatings [J] . Alexey Balastov, Boris Kovrigin, Valery Lavrinovich MATEC Web of Conferences . 2018,第12期

机译：检测印刷电路板薄膜涂层潜在缺陷的方法
2. Automatic optical inspection for detecting defects on printed circuit board inner layers [J] . Rau H, Wu CH The International Journal of Advanced Manufacturing Technology . 2005,第9a10期

机译：自动光学检查以检测印刷电路板内层上的缺陷
3. AN IMPROVED DEFECT CLASSIFICATION ALGORITHM FOR SIX PRINTING DEFECTS AND ITS IMPLEMENTATION ON REAL PRINTED CIRCUIT BOARD IMAGES [J] . Ismail Ibrahim, Zuwairie Ibrahim, Kamal Khalil, International Journal of Innovative Computing Information and Control . 2012,第5A期

机译：六个印刷缺陷的改进缺陷分类算法及其在实际印刷电路板上的实现
4. Application of morphological transformations in defect detecting of printed circuit board [C] . Author(s): Shifu Yuan Harbin Institute of Technology Harbin China, Xueru Zhang Harbin Institute of Technology Harbin China, Lixue Chen Harbin Institute of Technology Harbin China, Conference on intelligent robots and computer vision: Algorithms, techniques, and active vision . 1992

机译：形态学变换在印刷电路板缺陷检测中的应用
5. A new ATPG algorithm to generate compact test sets which detect static and dynamic defects in VLSI circuits. [D] . Lee, Sooryong. 2003

机译：一种新的ATPG算法，可生成紧凑的测试集，以检测VLSI电路中的静态和动态缺陷。
6. Printed Circuit Board Defect Detection Using Deep Learning via A Skip-Connected Convolutional Autoencoder [O] . Jungsuk Kim, Jungbeom Ko, Hojong Choi, 2021

机译：通过跳过连接的卷积AutoEncoder使用深度学习的印刷电路板缺陷检测
7. Erratum: “Deep level defects throughout the bandgap of (010) β-Ga2O3 detected by optically and thermally stimulated defect spectroscopy” Appl. Phys. Lett. 108, 052105 (2016) [O] . Z. Zhang, E. Farzana, A. R. Arehart, 2016

机译：错误：“通过光学和热刺激的缺陷谱检测的（010）β-Ga2O3的整个带隙的深层缺陷”苹果。物理。吧。 108,052105（2016）
8. Detecting residue on a printed circuit board: An application of the Boundary Contour/Feature Contour System [R] . Koch, M W, Moya, M M 1992

机译：检测印刷电路板上的残留物：边界轮廓/特征轮廓系统的应用

Detecting defects of a circuit board using a thermal visualization

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅