机译:元素电子断层扫描的进步,用于最先进的半导体器件和电路表征和失效分析
机译:红外热成像技术在电子设备和电路的功能和故障分析中的应用
机译:用MEP流体力学模型对晶体加热半导体耦合电子器件和电路的数值模拟。
机译:使用电子能量损失谱仪的最新半导体器件中的砷掺杂剂映射
机译:能量滤波元素映射层析成像技术在 r n半导体器件分析中的应用
机译:混合电路和器件仿真,用于光电,射频和高速半导体器件的分析,设计和优化。
机译:用于中频到高功率应用的宽带隙半导体开关装置的驱动电路综述
机译:针对FINFET半导体器件的3D形态学和元素分析的相关HAADF-茎和EDX-茎断层扫描
机译:先进的加工和表征技术。半导体光电器件和集成电路的制造和表征于1991年5月8日至10日在佛罗里达州克利尔沃特举行。美国真空学会系列10