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Temperature influence compensation in microbolometer detector for image quality enhancement

机译：微泡仪检测器中的温度影响图像质量增强

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作者
M. Krupiński; T. Sosnowski; H. Madura; S. Gogler;
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年度 2016
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1. NON-UNIFORMITY CORRECTION IN MICROBOLOMETER ARRAY WITH TEMPERATURE INFLUENCE COMPENSATION [J] . Krupinski Michal, Bieszczad Grzegorz, Sosnowski Tomasz, Metrology and Measurement Systems: Metrologia i Systemy Pomiarowe . 2014,第4期

机译：具有温度影响补偿的微量滴定仪阵列中的非均匀校正
2. NON-UNIFORMITY CORRECTION IN MICROBOLOMETER ARRAY WITH TEMPERATURE INFLUENCE COMPENSATION [J] . Michal Krupinski, Grzegorz Bieszczad, Tomasz Sosnowski, Metrology and Measurement Systems: Metrologia i Systemy Pomiarowe . 2014,第4期

机译：微泡仪阵列中具有温度影响补偿的非均匀性校正
3. Enhancement of image conversion efficiency in mosaic microbolometer detector arrays [J] . Demyanenko M. A., Novoselov A. R., Kozlov A. I., Journal of optical technology . 2018,第2期

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4. Non-uniformity correction with temperature influence compensation in microbolometer detector [C] . Michal Krupinski, Grzegorz Bieszczad, Slawomir Gogler, Image Sensing Technologies: Materials, Devices, Systems, and Applications II . 2015

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机译：微温度计阵列中温度影响补偿的非均匀性校正
8. Enhanced quantum efficiency of high-purity silicon imaging detectors by ultralow temperature surface modification using Sb doping [R] . Blacksberg, Jordana, Hoenk, Michael E., Elliott, S. Tom, 2005

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