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X-ray-absorption near-edge structure spectra for bulk materials: Multiple-scattering analysis versus a phenomenological approach

机译:用于散装材料的X射线吸收近边缘结构光谱:多散射分析与现象学方法

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摘要

X-ray-absorption near-edge structure data evaluations, based on a simple approach to determine bond lengths directly from features of the spectra, have frequently been reported in the literature. This approach is discussed critically taking into account multiple-scattering calculations as well as previously published experimental and theoretical data. All results together demonstrate that this approach can be used for simple molecules, but becomes questionable for condensed-matter analysis.
机译:基于一种简单的方法,X射线吸收近边缘结构数据评估直接从光谱的特征中确定粘合长度,在文献中经常报道。这种方法批判性地考虑了多次散射计算以及先前公布的实验和理论数据。所有结果都在一起证明这种方法可用于简单的分子,但是对于凝聚物分析而言变得有问题。

著录项

  • 作者

    Peter Kizler;

  • 作者单位
  • 年度 1992
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类

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