退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:在速度扫描基逻辑BIST中实现捕获电力安全的研究
Akihiro TOMITA; Xiaoqing WEN; Yasuo SATO; Seiji KAJIHARA; Kohei MIYASE; Stefan HOLST; Patrick GIRARD; Mohammad TEHRANIPOOR; Laung-Terng WANG;
机译:基于全速扫描逻辑BIST实现捕获电源安全性
机译:捕获功率安全的测试模式确定,用于基于扫描的全速测试
机译:X-Filling可在基于扫描的高速测试中同时降低移位和捕获功率
机译:用于多阈值NULL约定逻辑(MTNCL)电路的内置自检(BIST)
机译:由无机装置捕获的具有太阳能的混合光合作用生物催化剂
机译:iFill:一种基于冲击的X填充方法,用于在基于速度扫描的测试中减少移位和捕获功率
机译:使用内部高速逻辑BIST对逻辑块进行自动故障测试
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。