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Exploiting Transistor Folding Layout as RHBD Technique Against Single-Event Transients

机译：利用晶体管折叠布局作为rhBD技术对单事件瞬变

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Y. Q. Aguiar; F. Wrobel; J.-L. Autran; F. L. Kastensmidt; P. Leroux; F. Saigne; V. Pouget; A. D. Touboul;
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年度 2020
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