机译:结晶硅晶片的任意寿命和注入范围的校准光致发光寿命测量的有效性
机译:通过依赖于温度和注入能级的寿命测量来测量晶体硅中铁-硼对的电子性质
机译:载流子寿命交叉点对晶体硅中铁-硼对解离的掺杂依赖性
机译:通过不同的寿命测量技术将晶体硅中的铁检测
机译:载流子寿命测量,用于表征超净p / p +硅外延薄层。
机译:由磷和硼掺杂的富硅氧化物和氮氧化物生长的硅纳米晶体中没有自由载流子
机译:通过温度和注射水平依赖的寿命测量结晶硅的铁 - 硼对的电子性质
机译:重掺杂硅中少数载流子寿命,迁移率和扩散长度的测量