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A Distributed T-Way Test Suite Generation Using “One-Parameter-at-a-Time” Approachudud

机译:使用“一次一参数”方法的分布式T-Way测试套件生成 ud ud

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摘要

This paper presents a new distributed test suite generation for t-way testing, called TS_OP, using Map and Reduce software framework based on tuple space technology environment. TS_OP takes a oneparameter-at-a-time strategy and is capable of supporting high interaction strength (i.e. t>5). Internally, TS_OP coordinates and distributes the test case generation workload amongst participating workstations. An encouraging result is obtained from experimentation on the optimality of test suite size generated and on the speedup gain in multiple machine environments. Benchmarking studies in term of size of generated test suite against existing parameter based strategies (i.e.IPOG, MIPOG, IPOG-D, IPOG-F and IPOG-F2) indicate that TS_OPudgives competitive results.
机译:本文使用基于元组空间技术环境的Map and Reduce软件框架,提出了一种用于TS测试的新一代分布式测试套件,称为TS_OP。 TS_OP一次采用一个参数的策略,并且能够支持较高的交互强度(即t> 5)。在内部,TS_OP协调并在参与的工作站之间分配测试用例生成工作负载。通过对所生成的测试套件大小的最优性以及在多台机器环境中的加速增益进行实验,可以获得令人鼓舞的结果。对照现有的基于参数的策略(即IPOG,MIPOG,IPOG-D,IPOG-F和IPOG-F2)在生成的测试套件的大小方面进行的基准研究表明,TS_OP具有竞争优势。

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