机译:进场物体的静电放电(ESD)的通用模型:多次放电和进场速度的分析(转载于《电气过应力/静电放电研讨会论文集》,2000年)
机译:绝缘体上硅动态阈值ESD网络和有源钳位电路(转载自《电气过应力/静电放电研讨会论文集》,2000年)
机译:ESD电路仿真对互连RC延迟对HBM和CDM行为的影响(转载自《电气过应力/静电放电研讨会论文集》,2000年)
机译:组件和系统的静电放电(ESD)和电气过应力(EOS)测试的演变和革命
机译:非硅器件的静电放电和电气过应力故障。
机译:第5届UAB-UCSD OBrien中心年度学术研讨会论文集于2014年3月4日星期二在加利福尼亚州圣地亚哥举行
机译:电流静电放电下电源晶体管隧道场效应晶体管的特点
机译:部门8450电过载,EOs和静电放电,EsD,损坏控制手册