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机译:比较高k材料栅极间隔物在两个结构之间的DG-FinFET参数变化中的影响
Ameer F. Roslan; F. Salehuddin; A.S. M. Zain; K.E. Kaharudin; I. Ahmad; H. Hazura; A.R. Hanim; S.K. Idris;
机译:高K间隔三栅极MOSFET各种参数的比较分析
机译:具有高k间隔的三栅MOSFET各种参数的比较分析
机译:从间隔封装层材料和结构参数透视中封装空气间隙栅侧壁的热电偶联的电气性能调查
机译:高k间隔无结双栅MOSFET金属栅极功函数的变化分析
机译:高k /硅和高k /砷化镓栅极结构中的缺陷和键合结构。
机译:用于硅纳米晶浮栅存储器的基于Hf的高k材料
机译:栅极长度缩放对DG-FinFET中各种性能参数的影响:仿真研究
机译:集成了逻辑晶体管的可编程高k /金属栅极存储器晶体管的空间和栅极介电结构及其形成方法
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