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机译:在用户友好框架中集成定量X射线微基分析的二次荧光校正
Yu Yuan; Hendrix Demers; Samantha Rudinsky; Nicolas Brodusch; Mathieu Gendron; Eric Yen; Sabrina Clusiau; Nicolas Piché; Raynald Gauvin;
机译:分析电子显微镜X射线微基分析的二次荧光校正
机译:挪威云杉次生木质部同时X射线衍射和X射线荧光显微分析
机译:组合X射线显微映射和X射线荧光方法的综合三维微基分析
机译:用X射线荧光法和MonteTe Carlo仿真定量元素微基分析
机译:相对X射线谱线强度及其在单个标准程序中的应用,用于对大体积样品和薄膜进行定量X射线微分析。
机译:抛光技术在定量X射线显微分析中的意义
机译:电子探针微分析矿质夹杂物中相二界次级荧光的校正
机译:X射线荧光光谱法定量分析铪锆系统
机译:用于X射线定量微量分析的氮参考标准品的获得方法
机译:获得氮参考标准进行X射线定量微量分析的方法
机译:基于一组合金标准样品和数学调整模型的金属合金定量X射线微分析的方法。
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