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机译:基于逻辑操作的DFT方法和1R存储器横杆3月样测试算法
Peng Liu; Zhiqiang You; Jishun Kuang; Zhipeng Hu; Weizheng Wang;
机译:基于逻辑运算的DFT方法和1R忆阻纵横式March类测试算法
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机译:磁性过渡金属的晶体结构预测进化算法和混合DFT方法的氧化物
机译:横杆存储器阵列中的忆错逻辑:可变性感知设计,可靠性更高
机译:使用测试控制代码算法对存储器进行并行测试-读取由存储器读取的控制代码,该代码在测试期间在给定逻辑电平的测试引脚上建立,并在测试结束时处于高阻抗状态
机译:避免逻辑内置自检中的争用/冲突的DFT技术
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