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Analyzing Dislocations with Virtual Dark Field Images Reconstructed from Electron Diffraction Patterns

机译：用从电子衍射图案重建的虚拟暗场图像分析位错

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E.F. Rauch; M. Véron;
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年度 2014
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2. Dark-field imaging based on post-processed electron backscatter diffraction patterns of bulk crystalline materials in a scanning electron microscope [J] . Brodusch Nicolas, Demers Hendrix, Gauvin Raynald Ultramicroscopy . 2015,第Null期

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