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【2h】

Opening a new window on MR-based Electrical Properties Tomography with deep learning

机译：在深受深度学习的基于MR的电气性质断层扫描的新窗口

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Stefano Mandija; Ettore F. Meliadò; Niek R. F. Huttinga; Peter R. Luijten; Cornelis A. T. van den Berg;
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年度 2019
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