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Oblique-incidence reflectometry: one relative profile measurement of diffuse reflectance yields two optical parameters

机译：<标题>斜发射反射测量法：漫反射率的一个相对型材测量产生两个光学参数

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Lihong V. Wang; Shao-Pow Lin; Steven L. Jacques; Frank K. Tittel; Jennifer Harder; John Jancarik; Beth M. Mammini; Ward Small IV; Luiz B. Da Silva;
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年度 1995
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