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机译:用不同掺杂水平对P型Si光辅助蚀刻形成多孔硅的影响
Olga Volovlikova; Sergey Gavrilov; Petr Lazarenko;
机译:掺杂水平对p型硅金属辅助化学刻蚀的影响
机译:掺杂类型和水平对电镀蚀刻形成的多孔Si形态的影响
机译:起始硅单晶掺杂水平对电化学蚀刻产生多孔硅结构参数的影响
机译:电化学蚀刻条件对P型多孔硅形成和光致发光性能的影响
机译:半导体结中深层杂质的电学表征:掺D的P型硅上的肖特基势垒。
机译:照明对不同掺杂水平的p型硅光辅助刻蚀形成多孔硅的影响
机译:用金属辅助化学蚀刻形成高掺杂多孔Si层的硅衬底的形成与评价
机译:高掺杂水平对硅太阳能电池性能的影响
机译:用于将硅层转移到衬底支撑件上以在背面照明图像形成装置的绝缘体晶片上形成硅的方法,包括使掺杂层和p型硅衬底层多孔化
机译:通过使用蚀刻药物的方法形成的结构以及对该蚀刻药物具有对在非掺杂的二氧化硅和氮化硅之上的二氧化硅的选择性且被掺杂的二氧化硅的选择性。
机译:与氮化硅相比,选择性地蚀刻p型掺杂多晶硅的组合物和方法
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