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【2h】

Microstructure analyses of aluminum nitride (AlN) using transmission electron microscopy (TEM) and electron back-scattered diffraction (EBSD)

机译：使用透射电子显微镜（TEM）和电子背散衍射（EBSD）氮化铝（ALN）的微观结构分析

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Young Jun Joo; Cheong Ho Park; Joo Jin Jeong; Seung Min Kang; Gil Yeol Ryu; Sung Kang; Cheol Jin Kim;
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年度 2015
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