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机译:样品重叠的校正,赢家的诅咒和弱仪器偏差在两个样本孟德尔随机化中
Ninon Mounier; Zoltán Kutalik;
机译:两样本孟德尔随机化中参与者重叠导致的偏差
机译:由于参与者重叠,在两个样本孟德尔随机化中偏差
机译:利用碰撞者偏见将两个样本摘要数据门铃随机化方法应用于一个样本单个级别数据
机译:罕见/弱扰动下的离散分布的两次样本测试
机译:顺序受限随机设计下两样本位置问题的秩和检验。
机译:两样本孟德尔随机化中由于参与者重叠导致的偏差
机译:在集成电路中处理具有采样序列的采样信号的方法,涉及开发属于伪随机序列数字字的数字校正字,并减去当前样本中的数字校正字
机译:用于集成电路制造的样品投影方法,包括用样品构造晶片层,并将根据重叠值计算出的校正参数传送到晶片扫描仪和步进器
机译:样品制备,样品排序和测序数据偏置和质量控制的系统和方法
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