机译:有机半导体薄膜生长过程中同时进行X射线反射率和光谱学的原位测量
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机译:在干净的表面上进行反射率测量,以确定极端紫外线-软X射线区域中硅的光学常数
机译:在APS,ESRF和SPring-8光学计量实验室进行X射线镜循环测量的结果
机译:梯度折射率材料的光学相干断层扫描计量和自由形态光学表面
机译:使用共形柔性介电超表面解耦光学功能和几何形式
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机译:高级光子源镜子的计量学:光学和X射线测量之间的比较